"Ionendünnung" meaning in Allemand

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          "text": "Mittels Ionendünnung durch einen fokussierten Gallium-Ionenstrahl (FIB, focused ion beam) können Schnitte in die Kompositkathode durchgeführt werden, so dass ein Querschnitt dieser charakterisiert werden kann.",
          "translation": "Par amincissement ionique avec un faisceau ionique focalisé (FIB, focused ion beam) de gallium, des coupes peuvent être effectuées dans la cathode composite, de sorte qu’une section transverse de celle-ci puisse être caractérisée."
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          "ref": "Aleksandra Newirkowez, zu durch Schwerionen-Bestrahlung induzierten Materialveränderungen in supraleitenden NbTi-Drähten : Dissertation zur Erlangung des akademischen Grades eines Doktor-Ingenieurs, sous la dir. de Hartmut Fueß, partie 3.2.1 Analysemethoden - Transmissionselektronenmikroskopie - Probenpräparation, Université de technologie de Darmstadt – TUD, Darmstadt, novembre 2008, page 39",
          "text": "Bei der Ionendünnung geschieht die Materialabtragung durch den Beschuss der dünnen TEM-Probe mit Ionen. Die schematische Darstellung der Ionendünnungsvorrichtung ist in Abbildung 3.2.2 dargestellt. Die Geschwindigkeit der Ionendünnung ist abhängig von der angelegten Spannung (bis zu 6 keV), der Temperatur der Probe (die Probe kann mit flüssigem Stickstoff gekühlt werden), der Art der Ionen (z.B. Ar, He, I) und der Geometrie der Ionendünnung (die Probenoberfläche wird zum Ionenstrahl um 5° bis 10° gekippt ). Feinere Ionendünnung erreicht man, wenn der Winkel zwischen dem Strahl und der Probeoberfläche möglichst klein gehalten wird.",
          "translation": "Dans le cas de l’amincissement ionique, l’enlèvement de matière se fait par bombardement de l’échantillon MET fin par des ions. Une représentation schématique de l’installation d’amincissement ionique est donnée à la figure 3.2.2. La vitesse de d’amincissement ionique dépend de la tension appliquée (jusqu’à 6 keV), de la température de l’échantillon (l’échantillon peut être refroidi avec de l’azote liquide), du type d’ions (par exemple Ar, He, I) et de la géométrie de l’amincissement (la surface de l’échantillon est inclinée de 5° à 10° par rapport au faisceau d’ions). Un amincissement ionique plus fin est obtenu si l’angle entre le faisceau et la surface de l’échantillon est gardé aussi petit que possible."
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